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回收品牌上海东时贸易有限公司
业务范围全国
回收模式整厂单台皆可
上海东时贸易有限公司主营三坐标测量机、二手三坐标回收维修改造、机床测头、CNC在线测量系统、磨床主动量仪、CNC加工中心真空吸盘、工装夹具PLC控制器、伺服控制器、伺服电机、自动化设备非标定制等。十年工作经验,提供测量解决方案,致力于品质的提升!公司秉承“顾客至上,锐意进取”的经营理念,坚持“客户”的原则为广大客户提供的服务。
随着制造业技术的发展和现代化生产对品质要求的不断提升,三坐标测量机正发挥着“技术基础”和生产流程控制过程中不可缺少的重要作用!而今天,无论是在三坐标测量仪的设计技术,制造生产技术,还是应用技术方面,昆山海德纳的三坐标测量设备,都表现出了“不凡”的强劲能力。在设计技术方面以“致力于测量基准”的、精度的严谨和专注为本质;在制造生产过程中,以“致力于技术稳定”的精细、务实和专攻贯穿每一个工艺环节为中心;在应用技术方面,以致力于“创造客户的安心使用”的细致和负责为宗旨, 让用户“感受到”了实实在在的受益!
仪器简介
三坐标测量仪是指在一个六面体的空间范围内,能够表现几何形状、长度及圆周分度等测量能力的仪器,又称为三坐标测量机或三坐标量床。三坐标测量仪又可定义“一种具有可作三个方向移动的探测器,可在三个相互垂直的导轨上移动,此探测器以接触或非接触等方式传递讯号,三个轴的位移测量系统(如光栅尺)经数据处理器或计算机等计算出工件的各点(x,y,z)及各项功能测量的仪器”。三坐标测量仪的测量功能应包括尺寸精度、定位精度、几何精度及轮廓精度等 [1] 。
机型介绍
结构型式:三轴花岗岩、四面全环抱的德式活动桥式结构
传动方式:直流伺服系统 + 预载荷高精度空气轴承
长度测量系统:RENISHAW开放式光栅尺,分辨率为0.1μm
测头系统:雷尼绍控制器、雷尼绍测头、雷尼绍测针
机 台:高精度(00级)花岗岩平台
使用环境:温度(20±2)℃,湿度40%-70% ,温度梯度1℃/m,温度变化 1℃/h
空气压力:0.4 MPa - 0.6 Mpa
空气流量:25 L/min
长度精度MPEe: ≤2.1+L/350 (μm)
探测球精度MPEp: ≤2.1μm
1.开线扫描(Open Linear Scan)
开线扫描是基本的扫描方式。测头从起始点开始,沿一定方向并按预定步长进行扫描,直至终止点。开线扫描可分为有、无CAD模型两种情况。
(1)无CAD模型
如被测工件无CAD模型,先输入边界点(Boundary Points)的名义值。打开对话框中的“边界点”选项后,先点击“1”,输入扫描起始点数据;然后双击“D”,输入方向点(表示扫描方向的坐标点)的新的X、Y、Z坐标值;双击“2”,输入扫描终点数据。
第二项输入步长。在“扫描”对话框(Scan Dialog)中“方向1技术”(Direction 1 Tech)栏中的“”(Max Inc)栏中输入一个新步长值。
检查设定的方向矢量是否正确,该矢量定义了扫描开始后测量点表面的法矢、截面以及扫描结束前一点的表面法矢。当所有数据输入完成后点击“创建”。
(2)有CAD模型
如被测工件有CAD模型,开始扫描时用鼠标左键点击CAD模型的相应表面,PC DMIS程序将在CAD模型上生成一点并加标志“1”表示为扫描起始点;然后点击下一点定义扫描方向;点击终点(或边界点)并标志为“2”。在“1”和“2”之间连线。对于每一所选点,PC DMIS已在对话框中输入相应坐标值及矢量。确定步长及其它选项(如安全平面、单点等)后,点击“测量”,然后点击“创建”。
应用要点
(1)应根据被测工件的具体特点及建模要求合理选用适当的扫描测量方式,以达到提高数据采集精度和测量效率的目的。
(2)为便于测量草作和测头移动,应合理规划被测工件装夹位置;为保证造型精度,装夹工件时应尽量使测头能一次完成全部被测对象的扫描测量。
(3)扫描测量点的选取应包括工件轮廓几何信息的关键点,在曲率变化较明显的部位应适当增加测量点 [3] 。
数据管理
数据转换
数据转换的任务和要求:
(1)将测量数据格式转化为CAD软件可识别的IGES格式,合并后以产品名称或用户的名称分类保存。
(2)不同产品、不同属性、不同定位、易于混淆的数据应存放在不同的文件中,并在IGES文件中分层分色。
数据转换使用《三坐标测量数据处理系统》完成,操作方法见软件用户手册。
功能原理
简单地说,三坐标测量机就是在三个相互垂直的方向上有导向机构、测长元件、数显装置,有一个能够放置工件的工作台(大型和巨型不一定有),测头可以以手动或机动方式轻快地移动到被测点上,由读数设备和数显装置把被测点的坐标值显示出来的一种测量设备。显然这是简单、原始的测量机。有了这种测量机后,在测量容积里任意一点的坐标值都可通过读数装置和数显装置显示出来。测量机的采点发讯装置是测头,在沿X,Y,Z三个轴的方向装有光栅尺和读数头。其测量过程就是当测头接触工件并发出采点信号时,由控制系统去采集当前机床三轴坐标相对于机床原点的坐标值,再由计算机系统对数据进行处理。
重定位整合
1 、应用背景
在产品的测绘过程中,往往不能在同一坐标系将产品的几何数据一次测出。其原因一是产品尺寸超出测量机的行程,二是测量探头不能触及产品的,三是在工件拆下后发现数据缺失,需要补测。这时就需要在不同的定位状态(即不同的坐标系)下测量产品的各个部分,称为产品的重定位测量。而在造型时则应将这些不同坐标系下的重定位数据变换到同一坐标系中,这个过程称为重定位数据的整合。
对于复杂或较大的模型,测量过程中常需要多次定位测量,终的测量数据就必需依据一定的转换路径进行多次重定位整合,把各次定位中测得的数据转换成一个公共定位基准下的测量数据。
2 、重定位整合原理
工件移动(重定位)后的测量数据与移动前的测量数据存在着移动错位,如果我们在工件上确定一个在重定位前后都能测到的形体(称为重定位基准),那么只要在测量结束后,通过一系列变换使重定位后对该形体的测量结果与重定位前的测量结果重合,即可将重定位后的测量数据整合到重合前的数据中。重定位基准在重定位整合中起到了纽带的作用.
PID控制是:比例,积分,微分控制的缩写。
P参数:决定系统对位置误差的整个响应过程。数值越低,系统越稳定,不产生振荡,但刚性差,到位误差大;数值越高,刚性越好,到位误差小,但系统可能产生振荡。
I 参数:控制由于摩擦力和负载引起的静态到位误差。数值越低,到位时间越长;数值越高,可能在理论位置上下振荡。
D参数:此参数通过阻止误差变化过冲给系统提供阻尼和稳定性。数值越低,使系统对位置误差响应快;数值越高,系统响应越慢。
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