南京LED检测设备回收

苏州讯芯微电子设备有限公司主营 X-RAY  AOI  SPI 贴片机 周边设备 回流焊的出售、租赁，以及全新设备的售卖。有的营销团队提供周到的服务，我们将根据贵司产品以实际生产需要合理配置所需机型，我司提供技术支持、生产培训及相关技术人员。只要是客户你想要的，我们都能尽努力去办到。
Dage XD7500VR X光检查机
产品特点：
Dage X光检查机用于破坏性和非破坏性机械测试，以及电子元件的检测。
Nordson DAGE 获奖的X射线检测系统专为印制电路板 (PCB) 和半导体行业设计，并且采用了符合人体工程学的设计，可提供高分辨率纳米级焦距X射线系统，不仅可用于实验室故障分析，也可用于生产环境
Dage NT密封传送型X射线管是Dage NT X射线检测系统的核心部件. 其取代了早期系统中使用的闭合式管和开放式管，性能得到了很大的提升。
只有采用密封传送管才能切实提高X射线图像的分辨率，同时还能提供大功率，而不影响分辨率和放大倍率。
型号：XD7500VR
产品参数：
规格:XD7500VR
尺寸(长x宽x高):1450 x 1700 x 1970
重量:1900 KG
小聚集光点:0.95micron
Ｘ光发射管:开放管
X 射线管电压范围:30-160 KV
检测面积:458 x 407
DAGE XD-7500VR
板尺寸: 508 x 444
样本重量:5 KG
电源:单相 200-230V/16A
斜角视图:0-70°(360°检测)
系统（几何）放大倍率:1200x
安全标准:1u Sv/Hr(符合标准）
产品规格：
小分辨率：950纳米(0.95 微米)；
影像左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；
图像采集:1.3M万数字CCD；
检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 )；
样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444)；
系统放大倍数: 至5650X；
显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 u Sv/hr 等等

产品名称：X-eye 微焦X-RAY检测设备产品型号：X-eye 5000BTS产品特点：90kV微焦X射线管
样品尺寸达460 x 340
放大倍率达400x
预设检查条件功能 (运动模式数控编程)
配备各种测量和注释工具
X射线检测**解决方案X-eye 5000BTS型号是针对常规无损检测和缺陷分析而设计的一款高性能X-ray检测设备。
X-eye 5000BTS型号装载有90kV微焦闭管，焦斑尺寸达5μm，可提供高质量清晰图像。
配备有多种控制轴系统的X-eye 5000BTS型号设备可以操控样品从任何倍率，任何倾斜角度下进行检测。
设备装载的预设检查条件功能，使检查系统升级为半自动化设备。
操作界面友好，配备各种测量和备注工具，使用方便快捷。

射线探伤是利用放射线(X射线、γ射线或其他高能射线)能够穿透金属材料，并由于材料对射线的吸收和散射作用的不同，从而使胶片感光不一样，于是在底片上形成黑度不同的影像，据此来判断材料内部缺陷情况的一种检验方法，简称RT。X射线、γ射线均为不可见光，是一种具有较短波长的电磁波。其主要特性有：
(1)人眼不可见，射线直线传播;
(2)不受电场和磁场的影响，其本质是不带电的;
(3)能透过可见光所不能透过的物质，包括金属材料;
(4)能使某些物质起光化学作用，使胶片感光，使某些物质发生荧光作用;
(5)能被物质的原子吸收和散射，从而在穿透物质的过程时发生衰减现象;
(6)对有机体产生生理作用，伤害及杀死有生命的。
当射线穿透被检验的金属时，由于原子对射线的吸收与散射作用，射线的强度受到削弱，材料厚度越大，强度减弱越多。如果在X射线、γ射线穿透途中，遇到材料内部的各种缺陷，如气孔、夹渣、裂缝等，由于这些缺陷对射线的衰减作用，比毗邻的致密金属要小得多，从而使照相底片或荧光屏上呈现不同黑度的影像，由此即可判别缺陷的性质和大小。
射线探伤适用于各类钢材、有色金属材料等，特别适用于检查焊缝的质量。它具有发现缺陷直观、检查结果准确可靠、可将底片保留备查等优点。
日联科技制造的UNC系列X射线无损探伤检测机，检测速度快，检查全面，是工业生产和质量控制的一个重要部分。随着科技进展的步伐，X射线检测技术也在不断完善。其产品在检测性能上，安全性上已得到市场的广泛认可且久经考验。

X射线(X-ray)检测仪是在不损坏被检物品的前提下使用低能量X 光，快速检测出被检物。
　　利用高电压撞击靶材产生X射线穿透来检测电子元器件、半导体封装产品内部结构构造品质、以及SMT各类型焊点焊接质量等 [1]  。
型号：XD7500NT
参考标准：《IPC-A-610E电子组装件的验收标准》、《GB/T 17359-1998电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》
测试项目：
1、集成电路的封装工艺检测：层剥离、开裂、空洞和打线工艺；
2、印刷电路板制造工艺检测：焊线偏移，桥接，开路；
3、表面贴装工艺焊接性检测：焊点空洞的检测和测量；
4、连接线路检查：开路，短路，异常或不良连接的缺陷；
5、锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验；
6、高密度的塑料材质破裂或金属材质检验；
7、芯片尺寸量测，打线线弧量测，组件吃锡面积比例量测。
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