型号XD7500VR
检测面积458MM x 407MM
尺寸1450 x 1700 x 1970mm
电源单相 200-230V/16A
重量1900KG
全国范围内高价回收,租赁,销售,维修,保养,培训X-RAY射线检测机,X-RAY射线光管,X-RAY射线平板探测器,X-RAY射线增强器及各种X-RAY射线检测机配件。中介重酬!
苏州讯芯微电子设备有限公司是一家从事DAGE、YXLON、岛津、SEC、GE凤凰、善思、日联、爱兰特等X-RAY检测机X-RAY射线机无损检测及配件,回收,租赁,销售,维修,保养,培训于一体的科技公司。
Dage XD7500VR X光检查机
产品特点:
Dage X光检查机用于破坏性和非破坏性机械测试,以及电子元件的检测。
Nordson DAGE 获奖的X射线检测系统专为印制电路板 (PCB) 和半导体行业设计,并且采用了符合人体工程学的设计,可提供高分辨率纳米级焦距X射线系统,不仅可用于实验室故障分析,也可用于生产环境
Dage NT密封传送型X射线管是Dage NT X射线检测系统的核心部件. 其取代了早期系统中使用的闭合式管和开放式管,性能得到了很大的提升。
只有采用密封传送管才能切实提高X射线图像的分辨率,同时还能提供大功率,而不影响分辨率和放大倍率。
型号:XD7500VR
产品参数:
规格:XD7500VR
尺寸(长x宽x高):1450 x 1700 x 1970
重量:1900 KG
小聚集光点:0.95micron
X光发射管:开放管
X 射线管电压范围:30-160 KV
检测面积:458 x 407
DAGE XD-7500VR
板尺寸: 508 x 444
样本重量:5 KG
电源:单相 200-230V/16A
斜角视图:0-70°(360°检测)
系统(几何)放大倍率:1200x
安全标准:1u Sv/Hr(符合标准)
产品规格:
小分辨率:950纳米(0.95 微米);
影像左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度;
图像采集:1.3M万数字CCD;
检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 );
样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444);
系统放大倍数: 至5650X;
显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS);
安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 u Sv/hr 等等

PCBA生产设备
一:清洁机:
PCB在离开工厂时并未严格清洁,有大量碎屑、粉尘残留在PCB表面、边缘、贯穿孔等地方;
PCB在处理过程中易产生静电,使在SMT工序中易造成静电伤害 或 吸附粉尘。
粉尘等异物能造成印刷不良和虚焊、空焊、元件翘起、偏斜等焊接不良。在进入印刷机前清洁PCB能预防并减少不良品产生,提升品质,以达到增强产品可靠性的目的。
二、锡膏印刷机
现代锡膏印刷机一般由装版、加锡膏、压印、输电路板等机构组成。它的工作原理是:先将要印刷的电路板固定在印刷定位台上,然后由印刷机的左右刮刀把锡膏或红胶通过钢网漏印于对应焊盘,对漏印均匀的PCB,通过传输台输入至SPI进行检测。

“EMS经历过这样三个时期:个时期我把它称之为美好旧时光,人们只需要购买一套设备就可以使用10年以上;随之而来的第二个阶段不是“有了设备,客户就会送上门来”,而是“有了项目、有了客户,你就可以去买入设备支持你的项目”;而现在我们已经处于第三阶段,即凡事必须提前考虑、规划好的状态了。一般情况下,你必须要有一个技术发展蓝图,而且你要在做过一定程度的研发之后先行想好客户的需求。因为一旦客户找上门来,即使设备的交付时间只有4~6周,但是一个全面的评估流程要花上更多时间。资本支出就是以流程的自动化为中心——你必须要全面考虑好流程开发,并对其进行分析、开展培训,确保你已经尽到了大努力,之后才可以将新的设备引入工艺流程中。一旦你把所有这些工作都完善起来,在等待并购买的基础上完成这些工作,客户一般都会愿意等待。
“我们还希望与客户共享我们的技术发展蓝图。确保可以查看客户的工程组,知道客户的方向是什么,比如下一个要生产的产品是什么,这样我们就可以从中获取信息,先行一步。这不是把手指沾湿在空中挥一挥就可以看到整个行业走向的黑魔法。我们可以从客户需求中得到一些指点,但这种好事并不常有。”

锡炉
一般情况下,锡炉是指电子接焊接中使用的一种焊接工具。对于分立元件线路板焊接一致性好,操作方便、快捷、工作效率高,是您生产加工的好帮手。
X-ray检测
X-RAY无损检测X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁线。而对于样品无法以外观方式检测的位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。
检测项目:
1.IC封装中的缺陷检验如﹕层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打线的完整性检验。
2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如﹕对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open)。
3.SMT焊点空洞(cavity)现象检测与量测(measuration)。
4.各式连接线路中可能产生的开路(open),短路(short)或不正常连接的缺陷检验。
5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solder ball)的完整性检验。
6.密度较高的塑料材质破裂(plastic burst)或金属材质空洞(metal cavity)检验。
7.芯片尺寸量测(dimensional measurement),打线线弧量测,组件吃锡面积(Solder area)比例量测。
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