型号XD7500VR
检测面积458MM x 407MM
尺寸1450 x 1700 x 1970mm
电源单相 200-230V/16A
重量1900KG
全国范围内高价回收,租赁,销售,维修,保养,培训X-RAY射线检测机,X-RAY射线光管,X-RAY射线平板探测器,X-RAY射线增强器及各种X-RAY射线检测机配件。中介重酬!
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“在我看来,Kathy所说的这些不仅适用于EMS业务,还适用于任何正在试图解决问题的人。不要轻易决定购买设备,除非你已经清楚自己要解决什么样的难题,是技术或者工艺方面的难题,还是效率难题。弄清楚你要解决什么,不论这是不是你对设备供应商的评估要求,你都要告诉他们你的目标以及打算如何进行评估。”Turpin说,“当然,你要确保自己会检查项目计划,在这个过程刚进行的时候,你试图解决的问题就是你要开发并记录的工艺流程,在投入使用新资本支出的过程中也推出新的工艺流程。但从一个更高的层次来说,先从一个问题开始入手。不要从‘我需要买一套X、Y、Z设备’开始入手,而是要从‘我遇到了问题A、问题B、问题C,我应该怎么解决它呢?’开始入手”。
终,Turpin指出虽然他们很想与客户密切结合,也希望元件制造商可以与自动化供应商整合在一起。“他们应该确保自己生产的产品可以和放置元件、清洁元件、检测元件等操作方式整合到一起”。
Nargi-Toth表示,制造商与客户进行开放式沟通,共享发展蓝图中要进行的合作,这样对双方都有益处。“因为我们可以利用从他们那里收集到的信息我们的研究,而我们也可以更好地满足他们今后提出的要求,对他们来说也是好事。”她解释道,“如果我们知道未来几年内次级1 mil导线和空间可以应用到植入式器件中,我们就会朝着这个方向努力。而我们也会进行相应的研究工作,在这之后我们才会去评估设备。首先,我们一定要知道怎样才能实现这种技术。实现这种技术的佳方式是什么?是使用减成法还是加成法?这才是推动我们不断向前发展的思维模式”。
每家公司都应该制定一个发展蓝图或五年计划,这就强调了行业内整个供应链之间进行沟通的必要性。与客户和供应商三者密切合作可以帮助你更好地展望未来,有助于公司决定在何时购入哪种新设备,从而取得长远成功。

产品名称:X-eye 微焦X-RAY检测设备产品型号:X-eye 5000BTS产品特点:90kV微焦X射线管
样品尺寸达460 x 340
放大倍率达400x
预设检查条件功能 (运动模式数控编程)
配备各种测量和注释工具
X射线检测**解决方案X-eye 5000BTS型号是针对常规无损检测和缺陷分析而设计的一款高性能X-ray检测设备。
X-eye 5000BTS型号装载有90kV微焦闭管,焦斑尺寸达5μm,可提供高质量清晰图像。
配备有多种控制轴系统的X-eye 5000BTS型号设备可以操控样品从任何倍率,任何倾斜角度下进行检测。
设备装载的预设检查条件功能,使检查系统升级为半自动化设备。
操作界面友好,配备各种测量和备注工具,使用方便快捷。

:韩国日东 X-eye
型号:5000BTS
X射线管: 免维护,密封X射线管
软件: 100KV,焦点尺寸5微米
CAD输入 CAD X-Y资料,贴片资料导入
CAD转换兼容软件: Excel,Circuitcam,Unicam
操作系统: Windows XP
离线软件: 离线软件:OLS(离线编程,缺陷复查),
软件(可选): 实时SPC输出报告,一次通过率,缺陷分类,远程控制
检测能力:
检测速度: 0.5平方英寸/秒
基板尺寸: 450mx508(18x20in)
器件高度: 基板上下方50
小器件尺寸: 1005
可检测缺陷: 器件:位置,缺件,变形,碑立…
器件管脚:弯曲,虚焊,桥接,翘起…
设备: 焊锡:开路,缺锡,短路,锡球…
BGA:短路,空洞,位置,虚焊,锡球…
设备电源: 220VAC,50Hz,1
气压输入: 80 PSI
设备尺寸: 1500mmx1664mmx1600(5966d*63h in.)
设备重量: 5,000磅(2273 kg)
安全信息: YESTech的X射线检测设备的制造生产是完全按照美国联邦标准一关于同类X射线设备的管理条例1020.40的第J章,第21款所规定的。
在机箱和观察窗门之间使用了铅条密封,观察窗采用含铅玻璃。设备的互锁机构可保证当机休任何部位被打开或移去时没有X射线泄漏。

锡炉
一般情况下,锡炉是指电子接焊接中使用的一种焊接工具。对于分立元件线路板焊接一致性好,操作方便、快捷、工作效率高,是您生产加工的好帮手。
X-ray检测
X-RAY无损检测X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁线。而对于样品无法以外观方式检测的位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。
检测项目:
1.IC封装中的缺陷检验如﹕层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打线的完整性检验。
2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如﹕对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open)。
3.SMT焊点空洞(cavity)现象检测与量测(measuration)。
4.各式连接线路中可能产生的开路(open),短路(short)或不正常连接的缺陷检验。
5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solder ball)的完整性检验。
6.密度较高的塑料材质破裂(plastic burst)或金属材质空洞(metal cavity)检验。
7.芯片尺寸量测(dimensional measurement),打线线弧量测,组件吃锡面积(Solder area)比例量测。
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